目的　探讨小儿惊厥发作

发作时间

引起惊厥原因对脑神经元的损伤及其程度。方法　按照引起小儿惊厥的病因及惊厥发生持续的时间及次数进行分组

分别为五组、三组和三组。应用酶联免疫法和分光光度法测定惊厥发作后不同时间患儿血清和脑脊液中NSE

NO/NOS的含量。结果　①除热性惊厥组外

所有惊厥患儿血清及脑脊液中NSE

NO/NOS明显高于正常对照组 (P 0 0 5

P 0 0 1) ;②无论任何原因引起惊厥

惊厥时间越长

血清和脑脊液中NSE

NO/NOS越高

两者成正相关 (r =80 5～ 82 4

P 0 0 1) ;③在所有病因中

颅内感染者由于惊厥平均次数最多及平均持续时间最长

故脑脊液及血清中NSE

NO/NOS水平升高最明显

且持续时间最长

尤其是有昏迷或严重神经系统并发症者尤为突出

而热性惊厥者NSE

NO/NOS则无明显升高或只有轻微升高。结论　惊厥发作时由于伴有不同程度神经元损伤

从而使血清和脑脊液中NSE

NO/NOS水平其升高

其程度与惊厥发作持续时间

引起惊厥病因及脑损伤程度成正相关